檢測樣品（部分）
硅外延片、LED外延片、芯片外延片、半導(dǎo)體外延片、碳化硅外延片、晶圓外延片、激光外延片等。
檢測項目（部分）
熱學(xué)性能檢測、電氣性能檢測、力學(xué)性能檢測、機械性能檢測等。
檢測標準（部分）
GB/T 1550-2018非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型測試方法
GB/T 8758-2006砷化鎵外延層厚度紅外干涉測量方法
GB/T 12964-2018硅單晶拋光片
GB/T 14015-1992硅-蘭寶石外延片
GB/T 14139-2019硅外延片
GB/T 14844-2018半導(dǎo)體材料牌號表示方法
GB/T 19921-2018硅拋光片表面顆粒測試方法
GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次離子質(zhì)譜檢測方法
GB/T 24578-2015硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法
GB/T 26066-2010硅晶片上淺腐蝕坑檢測的測試方法
GB/T 30653-2014Ⅲ族氮化物外延片結(jié)晶質(zhì)量測試方法
GB/T 30654-2014Ⅲ族氮化物外延片晶格常數(shù)測試方法
GB/T 30655-2014氮化物L(fēng)ED外延片內(nèi)量子效率測試方法
GB/T 30854-2014LED發(fā)光用氮化鎵基外延片
檢測資質(zhì)（部分）
檢測優(yōu)勢
檢測實驗室（部分）
合作客戶（部分）
檢測報告作用
1、可以幫助生產(chǎn)商識別產(chǎn)品的潛在問題或缺陷，并及時改進生產(chǎn)工藝，保障產(chǎn)品的品質(zhì)和安全性。
2、可以為生產(chǎn)商提供科學(xué)的數(shù)據(jù)，證明其產(chǎn)品符合國際、國家和地區(qū)相關(guān)標準和規(guī)定，從而增強產(chǎn)品的市場競爭力。
3、可以評估產(chǎn)品的質(zhì)量和安全性，確保產(chǎn)品能夠達到預(yù)期效果，同時減少潛在的健康和安全風(fēng)險。
4、可以幫助生產(chǎn)商構(gòu)建品牌形象，提高品牌信譽度，并促進產(chǎn)品的銷售和市場推廣。
5、可以確定性能和特性以及元素，例如力學(xué)性能、化學(xué)性質(zhì)、物理性能、熱學(xué)性能等，從而為產(chǎn)品設(shè)計、制造和使用提供參考。
6、可以評估產(chǎn)品是否含有有毒有害成分，以及是否符合環(huán)保要求，從而保障產(chǎn)品的安全性。
檢測流程
1、中析研究所接受客戶委托，為客戶提供檢測服務(wù)
2、客戶可選擇寄送樣品或由我們的工程師進行采樣，以確保樣品的準確性和可靠性。
3、我們的工程師會對樣品進行初步評估，并提供報價，以便客戶了解檢測成本。
4、雙方將就檢測項目進行詳細溝通，并簽署保密協(xié)議，以保證客戶信息的保密性。在此基礎(chǔ)上，我們將進行測試試驗.
5、在檢測過程中，我們將與客戶進行密切溝通，以便隨時調(diào)整測試方案，確保測試進度。
6、試驗測試通常在7-15個工作日內(nèi)完成，具體時間根據(jù)樣品的類型和數(shù)量而定。
7、出具檢測樣品報告，以便客戶了解測試結(jié)果和檢測數(shù)據(jù)，為客戶提供有力的支持和幫助。
以上為外延片檢測的檢測內(nèi)容，如需更多內(nèi)容以及服務(wù)請聯(lián)系在線工程師。
